Samsung Galaxy S3 與 iPhone 4S 墮地測試齊爆「Mon」!!

外國網站 AndroidAuthority 做了一個 Samsung Galaxy S III 與 Apple iPhone 4S 的 Drop Test 下墜測試。

由膊頭高度跌落地的下墜測試，分別測試了機面與機背及螢光幕跌落地，兩機都逃不過爆「Mon」的命運。

片段首先係 iPhone 4S 的測試。

1. 機背向地跌 ：機背輕微刮花，操作正常。

2. 機側向地跌 ：機側刮花，但操作正常。

3. 螢光幕向地跌 ：螢光幕和機背爆裂，Touch Screen 及手機仲可以正常操作。

跟著就輪到 Galaxy S III 的測試。

1. 機背向地跌 ：機背輕微刮花，操作正常。

2. 機側向地跌 ：螢光幕左下角碎裂，但操作正常。

3. 螢光幕向地跌 ：機背蓋飛甩，螢光幕爆裂，Touch Screen 及手機未能運作。

係手機螢光幕正面跌落地好多時都一定會爆裂，但估唔到 S III 會咁易全機死直，而 iPhone 會比較扎實好難令佢跌死機 !!